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Industrielle Automation 3/2015

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Industrielle Automation 3/2015

SENSOR+TEST

SENSOR+TEST 2015 I TITEL Lösung: modulare Commercial off-the-shelf-Plattform 2002 wurde das Semiconductor Test Consortium (STC) gegründet, um eine kosteneffiziente Prüfmethode zu erarbeiten, die zugleich offene Testlösungen ermöglicht, sodass Hard- und Softwareinteroperabilität erreichbar wäre. Das STC konnte seine Vision allerdings nicht verwirklichen. Nun ist die Branche wieder an jenem Punkt angelangt, denn sie fordert eine offene Architektur, die auf den wachsenden Druck hinsichtlich Kosten und Marktreife reagieren und gleichzeitig eine flexible Lösung bieten kann, die sich an das Wachstum bei RFICund MEMS-Technologien anpasst. NI und andere Anbieter reagieren auf diese Marktnachfrage damit, indem sie ihre Lösung auf Basis einer modularen COTS- Plattform (Commercial off-the-shelf) erstellen, die bereits existiert. Eine vorhandene COTS-basierte Lösung als Herzstück eines Prüfgeräts zu verwenden, ist seit Langem eine erfolgreiche Strategie (und viele Unternehmen erlangen in dem Rahmen eine universelle Ausrichtung). Doch wie wird sich das in einer Halbleiterindustrie umsetzen lassen, in der Variationen durch das universelle Angebot von praktisch nur drei großen Anbietern begrenzt sind? Und weshalb sollte dieser Ansatz jetzt erfolgreicher sein als im Jahr 2002? Sind COTS-basierte Systeme ein erfolgreicher Ansatz? Die Antwort könnte in der Entwicklung hin zu einer größeren Akzeptanz modularer Lösungen liegen, etwa dem Industriestandard PXI (PCI eXtensions for Instrumentation). Das globale Beratungsunternehmen Frost & Sullivan ist der Ansicht, dass die Automatisierte Halbleiterprüfsysteme für RF- und Mixed-Signal-Produktionstest Ein Beispiel für die Vorteile der offenen PXI-Architektur sind die Semiconductor Test Systems von NI. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen. Pionieranwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprüfsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem höheren Durchsatz und können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten sowie zur anschließenden Markteinführung benötigt. Zudem erhalten Anwender jederzeit Produktsupport durch den Hersteller, was für einen reibungslosen Einsatz der Systeme sorgt und längeren Ausfallzeiten vorbeugt. Die Produktreihe STS umfasst drei unterschiedliche Modelle – T1, T2 und T4 –, die jeweils mit einem, zwei oder vier PXI-Chassis ausgerüstet werden können. Aufgrund der unterschiedlichen Größen sowie der einheitlichen Software, Messtechnik und des Verbindungsmechanismus in allen STS-Modellen können Anwender für zahlreiche Anforderungen an Pin-Anzahl und Flächendichte das optimale Modell finden. Nähere Informationen hierzu: ni.com/sts Testbranche in den kommenden sechs Jahren eine kumulierte jährliche Wachstumsrate von 18,1 % bei modularen Lösungen verzeichnen wird. Dieses Marktwachstum hat seit 2002 zu einer Hardwareentwicklung geführt, die die Anforderungen an I/O, welche für die enorme Zunahme bei RFIC und MEMS erforderlich sind, erfüllt oder zwischenzeitlich sogar übertrifft. Testmanager erkennen inzwischen, dass sie Prüfgeräte zu „universellen“ Testern umgestalten können, ohne sie komplett selbst zu bauen oder durch einen Anbieter erstellen zu lassen Darüber hinaus sind die handelsüblichen Softwarewerkzeuge, die Flexibilität für die gestiegenen ATE-Anforderungen bieten, jetzt weiter verbreitet. Da die Hardwareausgaben nur einen Bruchteil der Gesamtbetriebskosten für ein Prüfgerät ausmachen, hat die Verfügbarkeit kommerziell erhältlicher Softwarelösungen die Schwelle bei diesem Ansatz deutlich gesenkt. Hybrid schafft viele Optionen Trotz der vielfältigen Optionen, die sich Testmanagern für die Entwicklung standardisierter Testlösungen bieten, haben die vorherrschenden Trends auf dem modularen Markt ein hybrides Modell ermöglicht, das viele Kosten- und Flexibilitätsanforderungen erfüllen und zudem einen hohen Grad an Standardisierung aufweisen kann. Dieser hybride Ansatz sorgt nicht nur für mehr Optionen, mit denen schwierige Herausforderungen bei Tests bewältigt werden können, sondern offenbart auch, wie ein COTS-basiertes Universalprüfgerät Teststrategien erheblich vereinfachen, die Rendite maximieren sowie den ATE-Markt langfristig neu definieren kann. Bilder: Schmuckbild Fotolia, Sonstige: NI 02 Dank einheitlicher Architektur können unterschiedlichste Anforderungen bezüglich Pin-Anzahl und Flächendichte erfüllt werden germany.ni.com 16 INDUSTRIELLE AUTOMATION 3/2015

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