Aufrufe
vor 9 Monaten

Industrielle Automation 3/2015

  • Text
  • Industrielle
  • Automation
Industrielle Automation 3/2015

SENSOR+TEST

SENSOR+TEST 2015 I TITEL Den hybriden Ansatz etablieren Wie COTS-basierte standardisierte Prüfsysteme ganze Industriebereiche verändern Bill Driver Möchten Unternehmen ihre Kosten für Tests und Prüfungen reduzieren, besteht eine Möglichkeit darin, Prozesse, Produkte oder Serviceleistungen auf eine gemeinsame Testplattform zu setzen. Erforderlich hierfür sind standardisierte Universalprüfgeräte. Häufig führt jedoch die mangelnde Berücksichtigung von Trends, Produktkomplexität und langfristigen Kostenzielen zu über dimensionierten, teuren Prüfgeräten. Ein hybrider Ansatz dagegen sorgt bei der Entwicklung automatisierter Testsysteme für eine ausgewogene Lösung hinsichtlich Kosten, Support und Flexibilität. Jüngste Veränderungen bei automatisierten Testsystemen (Automated Test Equipment, ATE) erlauben es Testmanagern, mehr als nur das begrenzte Beschaffungsmodell nach dem Prinzip „selbst entwickeln oder kaufen“ in Betracht zu ziehen und konzentrieren sich auf einen ganzheitlicheren, hybriden Ansatz, wenn es um die Definition einer übergreifenden Teststrategie geht. Bei diesem neuen Ansatz können Testmanager mehr Vor- und Nachteile evaluieren, einzigartige Bedürfnisse mit der Produktkomplexität abwägen und ermitteln, wie Trends die Reduzierung des Produktlebenszyklus beeinflussen. Für viele Branchen, die häufig handelsübliche automatisierte Testsysteme kaufen, etwa die Automobil-, Halbleiter- und Luft- und Raumfahrtbranche, eröffnet dieser Trend interessante neue Möglichkeiten. Dies gilt besonders für jene in der Halbleiterbranche, die Trends wie das Internet der Dinge (IoT), Tablets, Smartphones, digitales Fernsehen und Smart Grids erleben. Da bei diesen Trends Radio Frequency Integrated Circuits (RFICs) und mikroelektromechanische Systeme (MEMSs) zum Einsatz kommen, die eine hohe Integration, Komplexität und Leistung aufweisen, ist auch der Lebenszyklus kürzer und das Testen schwieriger. Folglich verursacht eine Teststrategie für automatisierte Testsysteme, Bill Driver, Senior Marketing Manager, National Instruments

TITEL I SENSOR+TEST 2015 die nicht kosteneffizient, flexibel und problemlos zu unterstützen ist, alle paar Jahre kapitalintensive Anschaffungen von gänzlich neuer technischer Ausstattung. Aller ­ dings sorgen die Vorteile eines erhöhten Durchsatzes und der Großserienfertigung dafür, dass sich ein universeller Testansatz in der Halbleit erbranche immer mehr durchsetzt, sodass sich diese Herausforderungen leicht bewältigen lassen. Selbst entwickeln oder kaufen? Testmanager erkennen inzwischen, dass sie Prüfgeräte zu „universellen“ Testern umgestalten können, ohne sie komplett selbst bauen oder durch einen Anbieter erstellen lassen zu müssen. Doch mit ausreichend Fachwissen, Erfahrung und Zeit entwickeln Unternehmen wie Intel und Altera eigene Testlösungen von Grund auf, da der Markt ihren Bedarf nicht deckt. In einer im vergangenen Sommer veröffentlichen Pressemitteilung zur Markteinführung einer HDMT-Plattform (High Density Modular Test) sagte Babak Sabi, Vice President und Director of Assembly and Test Technology bei Intel: „Wir haben die HDMT-Plattform entwickelt, um eine rasche Testentwicklung und Prozesssteuerung auf Unit-Level zu ermöglichen. Diese bewährte Methode senkt die Kosten im Vergleich zu klassischen Testplattformen deutlich. Durch HDMT werden die für die Markteinführung notwendigen Prüfzeiten verringert und die Produktivität erhöht, da eine gemeinsame Plattform von der Fehlersuche in Kleinserien bis hin zur Großserienfertigung verwendet wird.“ In diesem Fall hat sich Intel für höhere Vorlaufkosten und weiterreichenden internen Support entschieden, um von den geringeren Kapitalkosten zu profitieren. Da die meisten Testabteilungen nicht über das Fachwissen verfügen, ein eigenes automatisiertes Prüfsystem zu erstellen, oder nicht die Zeit für die Wartung der Software aufbringen können, erwerben sie in der Regel handelsübliche automatisierte Testsysteme von einem der führenden Anbieter dieses Marktes. Dieser Ansatz spricht jene an, die Support durch den Anbieter schätzen. Oft sind jedoch die Systeme überdimensioniert und erfordern beträchtlichen Kapitalaufwand, woraus sich ein Amortisierungszeitraum ergibt, der den kürzeren Lebenszyklus der Produkte von heute überschreiten kann. Die Strategie, ein System selbst zu erwerben, ist in Situationen geeignet, in denen die Produktlebensdauer dem Tilgungsplan entspricht und der notwendige Grad an Flexibilität minimal ist, sodass keine Zusatzinvestitionen erforderlich sind. Traditionelle ATE-Systeme (Automated Test Equipment) müssen unter erheblichem Kostenaufwand mit neuen Werkzeugen auf dem Prüffeld umgerüstet werden, da Generationen von Prüfsystemen veralten oder neue Anforderungen an Tests nicht mehr erfüllt werden können. Aber die offene PXI-Architektur unterstützt uns dabei, unsere ursprünglichen Investitionen zu wahren und darauf aufzubauen, statt sie entsorgen zu müssen. Sie bietet die Flexibilität, die wir für die Rekonfiguration und Ausweitung unserer Prüfplattformen benötigen. Glen Peer, Director oft Test Engineering, IDT 01 Das PXI-basierte NI Semiconductor Test System (STS) kombiniert modulare Messgeräte und Systemdesignsoftware für RF- & Mixed-Signal-Produktionstests INDUSTRIELLE AUTOMATION 3/2015 15